Анализатор толщины покрытия XRF

Приложение

Анализатор толщины покрытий — это инструмент для точного и аккуратного измерения методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии толщины различных металлических и неметаллических покрытий (антикоррозионных, изоляционных, антиокислительных, водонепроницаемых, покрытий труб и т. д.). Компонентами основы/покрытия являются элементы от Mg до U. Система применима для контроля и мониторинга промышленных процессов.

Функции

• Автоматический выбор метода оценки толщины покрытия для оптимизации относительной погрешности измерений
• Дистанционное управление электроникой и программным обеспечением анализатора через интерфейс ETHERNET с рабочей станции и связь с OPC-сервером
• Очень простое и удобное управление и обслуживание.
• Возможность установки измерительного блока под и/или над измеряемым материалом
• Встроенный промышленный компьютер

ОПИСАНИЕ

Анализатор толщины покрытий — это инструмент для точного и аккуратного измерения методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии толщины различных металлических и неметаллических покрытий (антикоррозионных, изоляционных, антиокислительных, водонепроницаемых, покрытий труб и т. д.). Компонентами основы/покрытия являются элементы от Mg до U. Система применима для контроля и мониторинга промышленных процессов.

СПЕЦИФИКАЦИЯ

Параметры	Ценить
Материалы подложки	металл или неметалл
Лакокрасочные материалы	элементы от Mg до U, их соединения
Диапазон измеряемых толщин покрытий Al, Ti, Ti0 2 на подложке из нержавеющей стали, нм	50 - 30000
Диапазон измеряемых толщин покрытий Cu, Zn, Ni на подложке из нержавеющей стали, нм	5 - 5000
Диапазон измеряемой толщины покрытия Au на подложке, нм	2 - 3000
Относительная погрешность измерения времени 5с, %	1…10 %
Диапазон рабочих температур, °С	+ 5 до +40
Источник радиации	Рентгеновская трубка (Mo, Rh, Ag и т.д.)
Тип детектора	SDD-детектор
Электропитание 50/60 Гц, В переменного тока	230;380