СЭМ Сканирующие электронные микроскопы SEM4000X

Электронный микроскоп с полевой эмиссией SEM4000X
SEM4000X — это стабильный, универсальный, гибкий и эффективный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE-SEM). Он обеспечивает разрешение 1,8 нм при 1,0 кВ, легко справляясь с задачами получения изображений высокого разрешения для различных типов образцов. Его можно модернизировать с помощью режима сверхбыстрого замедления пучка для дальнейшего повышения разрешения при низком напряжении.

Микроскоп использует многодетекторную технологию с внутриколонным электронным детектором (U D), способным обнаруживать сигналы SE и BSE, обеспечивая при этом высокое разрешение.
Многодетекторный электронный детектор (LO), установленный в камере,
включает в себя технологию кристаллического сцинтиллятора и фотоумножителя,
обеспечивающую более высокую чувствительность и эффективность, что приводит к получению стереоскопических изображений превосходного качества. Графический пользовательский интерфейс удобен в использовании и включает в себя функции автоматизации, такие как автоматическая регулировка яркости и контраста, автофокусировка, автостигматор и автоматическое выравнивание концов. что позволяет быстро получать изображения сверхвысокого разрешения.

Функции: 

• Высокое разрешение
• Многодетекторная технология
• Упрощенное выравнивание
• Создано на основе высокопроизводительной платформы
• Технология режима сверхбыстрого замедления
• Отличные возможности расширения

Программное обеспечение: 

1. Программное обеспечение для анализа частиц и пор (Particle) :Программное обеспечение микроскопа  SEM использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации объектов, подходящие для разных типов образцов частиц и пор. Оно позволяет проводить количественный анализ статистических данных о частицах и порах и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и экология.

2. Программное обеспечение для постобработки изображений: Выполняйте постобработку изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, в режиме онлайн или офлайн, а также интегрируйте широко используемые функции обработки изображений электронной микроскопии, удобные инструменты измерения и аннотирования.

3. Автоматическое измерение: Автоматическое распознавание границ ширины линий, что обеспечивает более точные измерения и большую согласованность результатов. Поддержка нескольких режимов обнаружения границ, таких как линия, пробел, шаг и т. д. Совместимость с различными форматами изображений и наличие различных распространенных функций постобработки изображений. Программное обеспечение простое в использовании, эффективное и точное.

4. Комплект для разработки программного обеспечения (SDK):Предоставляется набор интерфейсов для управления сканирующим электронным микроскопом, включая получение изображений, настройку условий работы, включение/выключение питания, управление предметным столиком и т. д. Краткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать специализированные сценарии и программное обеспечение для работы с электронным микроскопом, обеспечивая автоматическое отслеживание областей интереса, сбор данных в рамках промышленной автоматизации, коррекцию дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как анализ диатомовых водорослей, контроль примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.

5. Автокарта

Технические параметры: