Исследовательский ИК-Фурье-спеткрометр Optosky ATP8900Pro

Инфракрасный Фурье-спектрометр исследовательского класса ATP 8900 Pro создан для решения сложных научных задач. Прибор оснащён автоматическим переключением между двумя источниками и детекторами, а также широким выбором детекторов и светоделителей, что позволяет настраивать чувствительность в широком диапазоне средне- и ближнеинфракрасного спектра — от 350 до 12 800 см^-1. Высокое спектральное разрешение (0,4 см^-1) и возможность регулирования температуры твёрдых образцов и давления газов обеспечивают работу в условиях низкотемпературной спектроскопии полупроводников и газовой спектроскопии при низком давлении. Вход излучения прибора позволяет проводить измерения спектров внешних источников. Для анализа образцов, чувствительных к влажности и углекислому газу, предусмотрены продувка корпуса сухим воздухом или азотом, автоматическая компенсация, а также возможность установки вакуумируемого внешнего отделения и отделения сверхвысокого вакуума. Широкий ассортимент приставок и модулей — включая НПВО, интегрирующую сферу, ТГА-ячейку и другие — позволяет оптимально решать разнообразные исследовательские задачи инфракрасной спектроскопии. Программное обеспечение спектрометра обеспечивает обработку спектров, идентификацию веществ, включая многокомпонентные смеси, и построение калибровочных моделей для количественного анализа.

Основные преимущества:

• широкий спектральный диапазон средней и ближней инфракрасной области спектра 350 - 12 800 см^-1;
• высокое спектральное разрешение 0,4 см^-1;
• широкий выбор детекторов и автоматическое переключение между ними;
• широкий выбор приставок и модулей: варьирование температуры и давления, многопроходные газовые кюветы, ячейка ТГА, внешние вакуумируемые отделения образцов и др.;
• наличие входа излучения для измерения спектров излучения внешних источников.
  
  

  Интерферометр	Интерферометр Майкельсона с кубическим угловым отражателем, без износа, подходит для полевых измерений, устойчив к механическим и температурным вибрациям
  Детекторы	DLaTGS, LN / TEC МСТ (азотного LN и термоэлектрического TE-охлаждения), LN InSb, LN Ge, TEC InGaAs и др.
  ИК-источник	Инфракрасный источник высокой интенсивности с длительным сроком службы и воздушым охлаждением
  Спектральный диапазон	8000 см-1 ~ 350 см-1 (Расширяемо до 12 800–4000 см-1)
  Спектральное разрешение	≤ 0,4 см-1 (Расширяемо до 0,25 см-1 - 0,2 см-1)
  Отношение сигнал к шуму	Лучше, чем 40 000:1 (разрешение: 4 см-1, детектор: DLATGS, сбор данных за 1 минуту)
  Точность волнового числа	≤0,01 см-1
  Фотометрическая точность	≤0,1% Т
  Программное обеспечение	Обработка спектра, Количественный анализ многокомпонентных образцов, Программное обеспечение для автоматической проверки, Расширенное программное обеспечение для программирования макросов Непрерывный онлайн-мониторинг оптических компонентов, источника лазерного излучения, датчика, светоделителя; Полное соответствие GMP и 21CFR 11
  Вывод данных	Стандартный формат данных, формирование и вывод отчётов
  Диагностика состояния	Самопроверка при включении, мониторинг температуры и влажности в реальном времени и напоминания
  Лазер	Газовый HeNe 633 нм
  Габаритные размеры	685х415х223мм
  Аксессуары	Пропускание, НПВО, Зеркальное отражение, Диффузное отражение
  Разделитель пучка	KBr (Расширяемо до CaF₂, ZnSe, Ge)

   

  Применение:

  • Промышленная безопасность: Анализ последствий взрывов и пожаров. Обнаружение и идентификация утечек опасных химических веществ.

  • Экологический и санитарный контроль: Выявление химических загрязнений. Контроль опасных соединений в окружающей среде и на объектах здравоохранения.

  • Криминалистика: Идентификация неизвестных веществ. Анализ химических улик и материалов расследования.

  • Таможенный контроль: Выборочная инспекция грузов. Обнаружение запрещённых и опасных веществ.

  • Лабораторные исследования: Качественный и количественный анализ веществ. Идентификация неизвестных соединений.

  • Строительная отрасль: Определение коэффициента излучательной способности строительных материалов. Оценка теплофизических характеристик покрытий.

  • Оптика: Оценка оптических материалов, включая инфракрасные окна и зеркала. Анализ спектральных характеристик.

  • Полупроводниковая промышленность: Контроль кремниевых материалов. Измерение параметров и толщины неметаллических тонких плёнок.