Прибор LEAI-52 — это усовершенствованная версия системы определения постоянной Планка, разработанная для получения высокоточных результатов при демонстрации фотоэлектрического эффекта. Этот прибор позволяет проводить точные измерения характеристической кривой фотоэлектронной трубки, проверять частоту «красного предела» и вычислять постоянную Планка с использованием уравнения фотоэлектрического эффекта Эйнштейна. Благодаря использованию прецизионной фотоэлектронной трубки, прибор позволяет проводить измерения с точностью до 3%.
Студенты могут проводить эксперименты либо вручную записывая данные, либо используя встроенную плату сбора данных для автоматической передачи данных на ПК через USB-порт. Полученные данные могут быть обработаны с помощью прилагаемого программного обеспечения для дальнейшего анализа. Эта модель обеспечивает более высокий уровень точности и расширенные возможности по сравнению с базовой моделью, что делает ее идеальной для углубленного изучения физики.
Используя прибор LEAI-52, студенты могут проводить различные эксперименты и достигать следующих учебных целей:
1. Продемонстрируйте фотоэлектрический эффект:
Студенты могут наблюдать и анализировать фотоэлектрический эффект, при котором свет, падающий на металлическую поверхность, высвобождает фотоэлектроны. Эксперимент демонстрирует квантовую природу света и подтверждает теорию о том, что свет обладает частицеподобными свойствами.
2. Измерьте характеристическую кривую фотоэлектронной трубки:
Студенты могут изучить вольт-амперную характеристику фотоэлектронной трубки, которая показывает зависимость тока фотоэлектронов от приложенного напряжения. Эта характеристика позволяет понять поведение фотоэлектронов в различных условиях.
3. Проверьте наличие частоты "красного предела":
Эксперимент позволяет студентам подтвердить существование «красного предела» частоты (минимальной частоты света, необходимой для испускания фотоэлектронов). Это наблюдение согласуется с уравнением Эйнштейна и предоставляет убедительные доказательства квантования энергии света.
4. Определите постоянную Планка:
Применяя уравнение Эйнштейна для фотоэлектрического эффекта, студенты могут с высокой степенью точности определить постоянную Планка. Полученные в ходе эксперимента данные используются для расчета этой фундаментальной константы, которая имеет центральное значение для понимания квантовой механики.
5. Использование программного обеспечения для сбора и анализа данных:
Использование встроенной системы сбора данных и соответствующего программного обеспечения для автоматической обработки полученных системой данных позволит студентам углубить понимание методов анализа данных. Это обеспечит более эффективный и точный способ анализа результатов экспериментов.
| Параметр | Значение и единицы измерения |
| Спектральный диапазон | 340 нм — 700 нм |
| Усилитель фототока | Диапазон 10^(-13) А — 10^(-8) А (6 шкал) |
| Линии спектра ртути (Hg) | 365.0, 404.7, 435.8, 546.1, 577.0 нм |
| Запирающее напряжение (U) | от -3.000 В до +3.000 В |
| Погрешность константы Планка (h) | не более 3% (типично 2%) |
| Темновой ток (I) | менее или равен 2 * 10^(-12) А |
| Входное сопротивление | более или равно 10^13 Ом |
| Интерфейс подключения | USB / RS-232 |
| Режимы работы | Ручной и автоматический (сканирование) |
Основные функции и преимущества
-
Автоматическое сканирование: В отличие от базовой модели, LEAI-52 может самостоятельно изменять напряжение и записывать вольтамперную характеристику (ВАХ) для каждой длины волны.
-
Программное обеспечение: В комплекте идет ПО для ОС Windows, которое в реальном времени строит графики и автоматически рассчитывает постоянную Планка (h) и работу выхода (Φ) методом линейной регрессии.
-
Высокая точность: Благодаря цифровой фильтрации сигнала и прецизионному АЦП, погрешность измерения снижена до 3% и менее.
-
Интегрированный дизайн: Блок управления оснащен графическим ЖК-дисплеем, на котором отображаются не только цифры, но и кривые фототока без подключения к компьютеру.
-
Стабильный источник света: Кожух ртутной лампы имеет улучшенную вентиляцию, что минимизирует температурный дрейф интенсивности излучения.
- Бағасы: Бағасын нақтылаңыз


Жіберу 15 июня 2026