Настольный рентгеновский дифракционный анализатор DW-27mini

Он предназначен для коммерческого процесса и контроля качества. Это концентрация передовой технологии производства XRD, с многофункциональностью и миниатюризацией. Он может выполнять качественный анализ, количественный анализ и анализ кристаллической структуры металлических и неметаллических образцов, особенно для катализаторов, диоксида титана, цемента и фармацевтической промышленности.

Параметры:

Рабочий ресурс (напряжение трубки, ток трубки): 600 Вт (40 кВ, 15 мА), Стабильность: 0,005%
Рентгеновская трубка: металлокерамическая рентгеновская трубка, Cu мишень, Мощность 2,4 кВт,
Размер фокуса: 1 x 10 мм; воздушное или водяное охлаждение（ расход воды ＞1L/min）
Гониометр: θs-θd, дифракционный радиус 150 мм
Метод измерения: Непрерывный, шаговый, Омг
Диапазон угловых измерений: Время утечки, θs/θd составляет -3°～150°.
Минимальная ширина шага: 0.0001°
Угловая воспроизводимость: 0.0001°
Режим привода: сервопривод + технология управления оптическим энкодером
Скорость углового позиционирования: 1500°/мин
Счетчик: Закрытый пропорциональный детектор
Разрешение энергетического спектра<25%
Макс. линейная скорость счета≥5×105 cps（Proportional）
Компьютер: ноутбук

Управляющее программное обеспечение:
Операционная система Windows 10; контроль напряжения трубки, тока трубки, затвора рентгеновского генератора и автоматическое обучение старению; контроль непрерывного или шагового сканирования гониометра и сбора дифракционных данных; рутинная обработка: автоматический поиск пиков, ручной поиск пиков, интегральная интенсивность, высота пика, ядро, вычет фона, гладкость, усиление формы пика и сравнение спектрограмм и др.

Программное обеспечение для обработки данных: 
Качественный и количественный анализ фаз материала, Kα1, α2 пилинг, полная подгонка спектра, подгонка пика, расчет полуширины и размера зерна, измерение кристаллической ячейки, расчет напряжения второго рода, индексация дифракционных линий, многократное черчение, 3D черчение, калибровка дифракционных данных, вычитание фона, количественный анализ без стандартов, полная подгонка спектрального изображения (WPF), моделирование XRD дифракционного изображения и т.д.

Защита от рассеянного излучения: Защита свинцом + свинцовое стекло, окна-жалюзи и защитная навеска, доза рассеянного излучения не превышает 1 мкЗв/ч.
Комплексное регулирование прибора: ≤1%
Габаритные размеры: 600x410x670 (ШхДхГ) мм