Преимущества и применение XAFS
- XAFS – мощный инструмент для исследования локальной атомной и электронной структуры материалов.
- Области применения XAFS:
- Промышленный катализ
- Наноматериалы
- Анализ качества
- Анализ тяжелых элементов и других веществ
- Преимущества XAFS:
- Ультравысокое разрешение (до 0,5 эВ)
- Флуоресцентный режим (эффективен при низком содержании анализируемого вещества на высоком фоне)
- Ультравысокий световой поток
- Сверхнизкие пределы обнаружения (до 0,3–0,5%, источник: 10.1039/D2CC05081A)
Тонкая структура рентгеновского поглощения (XAFS), также называемая рентгеновской абсорбционной спектроскопией (XAS), – это мощный метод исследования локальной атомной и электронной структуры материалов. Он основан на использовании источника синхротронного излучения и широко применяется в передовых областях, таких как катализ, энергетика и нанотехнологии.
Технические параметры XAFS
Параметр | Значение |
---|---|
Энергетический диапазон | 5–19 кэВ |
Спектральный режим | Трансмиссионный режим |
Световой поток на образце | > 1 000 000 фотонов/с/эВ |
Энергетическое разрешение | XANES: 0,5–1,5 эВ, EXAFS: 1,5–10 эВ |
Рентгеновский путь | Доступ гелия для снижения поглощения воздуха |
Повторяемость | Энергетический дрейф при повторном измерении < 50 мэВ |
Мощность рентгеновского источника | 1,6 кВт, высокое напряжение 10–40 кВ, ток 1–40 мА |
Материал мишени | W (вольфрам), Mo (молибден), доступны другие материалы |
Тип монохроматора | Сферический аналитический кристалл с радиусом кривизны 500 мм |
Размер монохроматора | 100 мм |
Тип детектора | Крупноформатный SDD-детектор (полупроводниковый дрейфовый детектор) |
Эффективная площадь детектора | 150 мм² |
Дисковый держатель образцов | 18-позиционный, автоматическое тестирование нескольких образцов |
Ин-ситу ячейка образца | Электрокатализ, переменная температура, другие многофакторные механические условия |
Аналитический кристалл | Пользовательский монохроматор для анализа специальных элементов |
Ключевые преимущества
-
Максимальный световой поток
- Поток фотонов превышает 1 000 000 фотонов/сек/эВ.
- Эффективность спектрального сбора в несколько раз выше, чем у аналогичных приборов.
- Обеспечивает качество данных, сопоставимое с синхротронным излучением.
-
Отличная стабильность
- Стабильность интенсивности монохроматического излучения лучше 0,1%.
- Дрейф энергии при повторных измерениях < 50 мэВ.
-
Предел обнаружения 1%
- Высокий световой поток, оптимизированная оптическая система и стабильность источника излучения.
- Обеспечивает высококачественные EXAFS-данные при содержании измеряемого элемента >1%.
Принцип работы прибора
Тонкая структура рентгеновского поглощения (XAFS) — это мощный метод исследования локальной атомной и электронной структуры материалов. Он широко применяется в катализе, энергетике, нанотехнологиях и других передовых областях науки и промышленности.
Измеряемые элементы:
- Зелёная область – элементы, для которых можно измерять K-край поглощения.
- Жёлтая область – элементы, для которых можно измерять L-край поглощения.
Эти измерения позволяют анализировать электронную структуру и локальное окружение атомов в материалах с высокой точностью.
Области применения:
- Промышленный катализ
- Материалы для накопления энергии
- Наноматериалы
- Экологическая токсикология
- Анализ качества
- Анализ тяжёлых элементов и другие области высокоточного материаловедения.
- Цена: Цену уточняйте