Продавец MARTUK BROTHERS развивает свой бизнес на Satu.kz 9 лет.
Знак PRO означает, что продавец пользуется одним из платных пакетов услуг Satu.kz с расширенными функциональными возможностями.
Сравнить возможности действующих пакетов
Создать сайт на Satu.kz
Корзина
2 отзыва
+7 (708) 858-69-34
martuk.kz
Корзина

Тонкая структура рентгеновского поглощения

Цену уточняйте

  • Под заказ
clockОтправка с 16 июля 2025
Тонкая структура рентгеновского поглощения
Тонкая структура рентгеновского поглощенияПод заказ
Цену уточняйте
+7 (708) 858-69-34
Офис Call-центр
+7 (708) 858-69-34
Офис Call-центр

Заказ только по телефону

возврат товара в течение 14 дней по договоренности

Преимущества и применение XAFS

  1. XAFS – мощный инструмент для исследования локальной атомной и электронной структуры материалов.
  2. Области применения XAFS:
    • Промышленный катализ
    • Наноматериалы
    • Анализ качества
    • Анализ тяжелых элементов и других веществ
  3. Преимущества XAFS:
    • Ультравысокое разрешение (до 0,5 эВ)
    • Флуоресцентный режим (эффективен при низком содержании анализируемого вещества на высоком фоне)
    • Ультравысокий световой поток
    • Сверхнизкие пределы обнаружения (до 0,3–0,5%, источник: 10.1039/D2CC05081A)

Тонкая структура рентгеновского поглощения (XAFS), также называемая рентгеновской абсорбционной спектроскопией (XAS), – это мощный метод исследования локальной атомной и электронной структуры материалов. Он основан на использовании источника синхротронного излучения и широко применяется в передовых областях, таких как катализ, энергетика и нанотехнологии.

Технические параметры XAFS

Параметр Значение
Энергетический диапазон 5–19 кэВ
Спектральный режим Трансмиссионный режим
Световой поток на образце > 1 000 000 фотонов/с/эВ
Энергетическое разрешение XANES: 0,5–1,5 эВ, EXAFS: 1,5–10 эВ
Рентгеновский путь Доступ гелия для снижения поглощения воздуха
Повторяемость Энергетический дрейф при повторном измерении < 50 мэВ
Мощность рентгеновского источника 1,6 кВт, высокое напряжение 10–40 кВ, ток 1–40 мА
Материал мишени W (вольфрам), Mo (молибден), доступны другие материалы
Тип монохроматора Сферический аналитический кристалл с радиусом кривизны 500 мм
Размер монохроматора 100 мм
Тип детектора Крупноформатный SDD-детектор (полупроводниковый дрейфовый детектор)
Эффективная площадь детектора 150 мм²
Дисковый держатель образцов 18-позиционный, автоматическое тестирование нескольких образцов
Ин-ситу ячейка образца Электрокатализ, переменная температура, другие многофакторные механические условия
Аналитический кристалл Пользовательский монохроматор для анализа специальных элементов

X-ray Absorption Fine Structure

Ключевые преимущества

  1. Максимальный световой поток

    • Поток фотонов превышает 1 000 000 фотонов/сек/эВ.
    • Эффективность спектрального сбора в несколько раз выше, чем у аналогичных приборов.
    • Обеспечивает качество данных, сопоставимое с синхротронным излучением.
  2. Отличная стабильность

    • Стабильность интенсивности монохроматического излучения лучше 0,1%.
    • Дрейф энергии при повторных измерениях < 50 мэВ.
  3. Предел обнаружения 1%

    • Высокий световой поток, оптимизированная оптическая система и стабильность источника излучения.
    • Обеспечивает высококачественные EXAFS-данные при содержании измеряемого элемента >1%.

Принцип работы прибора

Тонкая структура рентгеновского поглощения (XAFS) — это мощный метод исследования локальной атомной и электронной структуры материалов. Он широко применяется в катализе, энергетике, нанотехнологиях и других передовых областях науки и промышленности.

XAFS

X-ray Absorption Fine Structure Spectrum

X-ray Absorption Fine Structure

Измеряемые элементы:

  • Зелёная область – элементы, для которых можно измерять K-край поглощения.
  • Жёлтая область – элементы, для которых можно измерять L-край поглощения.

Эти измерения позволяют анализировать электронную структуру и локальное окружение атомов в материалах с высокой точностью.

XAFS

Области применения:

  • Промышленный катализ
  • Материалы для накопления энергии
  • Наноматериалы
  • Экологическая токсикология
  • Анализ качества
  • Анализ тяжёлых элементов и другие области высокоточного материаловедения.

X-ray Absorption Fine Structure Spectrum

Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте