Система ALD (Atomic Layer Deposition)— это установка, используемая для нанесения сверхтонких пленок на подложки с контролем толщины на атомном уровне. Они широко используются в производстве полупроводников, нанотехнологиях, оптоэлектронике и других высокотехнологичных областях.
Характеристики продукта:
Точный контроль толщины: ALD достигает точности на атомном уровне путем попеременного введения различных исходных газов, обеспечивая равномерное осаждение пленки.
Равномерное покрытие пленкой: возможность равномерного нанесения пленок на сложные трехмерные структуры и подложки с высоким соотношением сторон.
Совместимость с материалами: можно наносить различные материалы, включая оксиды, нитриды, металлы и сплавы.
Высококачественные пленки: получаемые пленки плотные, бездефектные и обладают превосходными электрическими и механическими свойствами.
Щадящие условия процесса: процессы ALD обычно проводятся при низких температурах, что делает их подходящими для термочувствительных материалов.
Технические параметры:
Параметр |
Описание |
Модель |
CY-200S-ALD |
Реакционная камера |
Стандартная камера для выращивания образцов до 8 дюймов, максимальная высота образца — 20 мм (возможно изготовление под заказ с увеличенной высотой); двухуплотнительная система DualOTM с защитой от утечек газов; нагрев подложки: от комнатной температуры до 400 °C, точность ±1 °C; прогрев камеры: от комнатной температуры до 200 °C, точность ±1 °C. |
Режимы осаждения |
2 режима: 1) Непрерывный (Flow TM) — высокоскоростное осаждение; 2) StopFlow TM — для осаждения структур с очень высоким отношением сторон. |
Источники прекурсоров |
Всего 5 источников: 1 при комнатной температуре, 4 — с нагревом (до 200 °C, точность ±1 °C); источник с нагревом оснащён высокотемпературным ручным клапаном; стандартный объём баллона — 50 сс. Комнатный источник может подключаться к H₂O/озон/кислород/аммиак/H₂S для получения оксидов, нитридов и сульфидов. |
Трубопроводы прекурсоров |
Все трубопроводы — из нержавеющей стали 316L, класс EP, нагреваемые до 150 °C. |
Клапаны ALD |
Высокоскоростные и высокотемпературные клапаны, предназначенные для атомно-слоевого осаждения; монтаж — встроенный; замена — через заглушки; нагрев корпуса клапана до 150 °C. |
Вакуумметр |
широкодиапазонный вакуумметр: 2×10⁻⁴ до 10³ торр. |
Выпускной трубопровод |
Нагреваемый до 150 °C, оснащён запорным клапаном с управляемым нагревом. |
Система генерации озона |
Высококонцентрированный генератор озона с трубопроводом и разрушителем; макс. выход >15 г/ч, мощность 0–300 Вт, концентрация >3,5% (мас.). |
Интерфейсы для обновлений |
Интерфейс для модернизации до 6 источников прекурсоров; интерфейсы для установки СВЧ-плазмы или молекулярных систем без возврата прибора на завод. |
Аппаратное управление |
Система управления на базе ПЛК. |
Программное обеспечение |
Специальное ПО autoALD™ для автоматического управления нагревом, потоками и осаждением, с мониторингом температуры и давления в реальном времени. |
Вакуумный насос |
Механический насос. |
Гарантия |
Один год с момента приёмки оборудования. |
Установка и обучение |
Установка и обучение инженером на месте. |
Комплектация установки:
Наименование |
Описание |
Установка |
Стандартная 8-дюймовая система атомно-слоевого осаждения. |
Источники прекурсоров |
5 источников, включая трубопроводы, высокотемпературные ALD-клапаны, баллоны объёмом 50 мл. №4 — источник с подогревом, №1 — источник при комнатной температуре. |
Система управления осаждением |
Автоматическая система управления осаждением. |
Программное обеспечение |
Программа управления осаждением autoALD™. |
Ноутбук |
Ноутбук с предустановленной Windows™. |
Генератор озона |
Генератор озона высокой концентрации с трубопроводами и разрушителем; макс. выход >15 г/ч, макс. концентрация >3,5% (мас.). |
Крышка камеры для высоких образцов |
Для загрузки высоких образцов (высота до 20 мм). |
Вакуумная система |
Механические насосы и соответствующие трубопроводы. |
Применение:
-
Производство полупроводников:
-
Оксиды затвора: Используются при производстве передовых полупроводниковых устройств, таких как МОП-транзисторы (MOSFET).
-
Диэлектрики с высокой диэлектрической проницаемостью (High-k): Осаждение материалов с высокой диэлектрической проницаемостью в интегральных схемах для повышения производительности устройств и снижения утечек.
-
Медные соединения: Улучшение медных межсоединений в микросхемах путём осаждения барьерных и посевных слоёв.
-
Устройства памяти:
-
DRAM и флэш-память: Осаждение высокок-материалов и проводящих слоёв в ОЗУ (DRAM) и флэш-памяти (например, 3D NAND) для увеличения плотности хранения и производительности.
-
Оптоэлектронные устройства:
-
Солнечные элементы: Осаждение прозрачных проводящих оксидов или пассивирующих слоёв в тонкоплёночных солнечных батареях для повышения эффективности фотоэлектрического преобразования.
-
Светодиоды и OLED: Осаждение эмиссионных слоёв и материалов электродов для улучшения характеристик OLED и LED.
-
Нанотехнологии:
-
Покрытия наноструктур: Равномерное осаждение тонких плёнок на сложных наноструктурах (нанопровода, нанотрубки) для оптимизации оптических и электрических свойств.
-
Покрытия квантовых точек: Осаждение защитных или функциональных тонких плёнок на материалы квантовых точек для повышения их стабильности и эффективности.
-
Защитные покрытия:
-
Электроника: Осаждение влагостойких и коррозионно-стойких покрытий на электронные устройства для продления срока службы.
-
Медицинские изделия: Осаждение биосовместимых покрытий на биоматериалы и импланты для улучшения взаимодействия с тканями человека.
-
Подготовка катализаторов:
-
Точные катализаторные слои: Повышение эффективности катализаторов за счёт управления толщиной и распределением катализаторных слоёв, применяются в химических реакциях и преобразовании энергии.
-
Накопление энергии:
-
Электроды аккумуляторов: Осаждение тонкоплёночных электродных материалов в литий-ионных батареях и суперконденсаторах для увеличения плотности энергии и срока службы.
-
Топливные элементы: Осаждение тонких плёнок на электроды и мембраны обмена протонов в топливных элементах для повышения эффективности и долговечности.
-
Датчики:
-
Газовые датчики: Осаждение чувствительных тонких плёнок на газовые датчики для повышения чувствительности и селективности.
-
Биосенсоры: Осаждение функциональных тонких плёнок на биосенсоры для улучшения их способности обнаруживать биомолекулы.
-
Технологии отображения:
-
Тонкоплёночные транзисторы (TFT): Используются в производстве ЖК-дисплеев и OLED-дисплеев для повышения характеристик отображения.
-
Сенсорные экраны: Осаждение проводящих тонких плёнок для улучшения электрических характеристик и чувствительности к прикосновению.
Пример применения (осаждение Al₂O₃ на кремниевые или стеклянные подложки):
Процесс осаждения тонких плёнок оксида алюминия (Al₂O₃) на кремниевые или стеклянные подложки с использованием технологии ALD включает следующие этапы:
-
Подготовка подложки
-
Очистка подложки: Удаление загрязнений и частиц с поверхности с помощью химической очистки. Для кремниевых подложек может применяться травление HF для удаления оксидного слоя.
-
Сушка подложки: Используется азот или другой безводный газ для сушки, исключая наличие влаги.
-
Загрузка подложки
-
Размещение подложки: Поместить очищенную подложку на держатель в ALD-системе, гладкой стороной вверх.
-
Вакуумирование камеры: Закрытие камеры и снижение давления до 10⁻³ – 10⁻⁶ Торр.
-
Нагрев подложки
-
Установка температуры: Нагрев до 150–300 °C в зависимости от прекурсора и требуемого качества плёнки.
-
Стабилизация температуры: Перед началом осаждения убедиться в равномерности нагрева.
-
Осаждение оксида алюминия (Al₂O₃)
-
Импульс прекурсора 1 (TMA): Подача три-метил-алюминия (TMA) как источника алюминия. TMA реагирует с поверхностью, формируя моноатомный слой.
-
Промывка: Прекращение подачи TMA и промывка камеры инертным газом (азот/аргон).
-
Импульс прекурсора 2 (вода/озон): Подача источника кислорода (вода или озон), который реагирует с TMA, образуя Al₂O₃.
-
Промывка: Снова промывка инертным газом для удаления побочных продуктов.
-
Повторение циклов осаждения
-
Количество циклов: Повторение шагов TMA – промывка – кислородный источник – промывка в зависимости от требуемой толщины плёнки. Один цикл ≈ 0,1–0,2 нм.
-
Контроль толщины: Толщина контролируется числом циклов.
-
Охлаждение и выгрузка
-
Охлаждение: После осаждения температура камеры снижается до комнатной.
-
Выгрузка подложки: Прекращение осаждения, восстановление атмосферного давления и извлечение подложки.
-
Послесинтезная обработка (опционально)
-
Отжиг: При необходимости проводят термообработку (например, в кислороде) для улучшения свойств плёнки.
-
Характеризация тонкой плёнки
-
Измерение толщины: Элипсометр или другое оборудование.
-
Анализ морфологии: СЭМ или АСМ для оценки равномерности и гладкости плёнки.
Основные | |
---|---|
Производитель | ATOMIC |
- Цена: 69 800 300 ₸