Система Холла
Состав системы:
Система приборов состоит из постоянного магнита, высокоточного источника постоянного тока, высокоточного вольтметра, держателя образца на эффекте Холла, стандартного образца, высокоточного измерителя Гаусса и системного программного обеспечения. Эффектор DX-320, специально разработанный для этой инструментальной системы, включает в себя источник постоянного тока, шестиразрядный полумикровольтметр и сложный переключающий релейный переключатель для измерения Холла, что значительно сокращает количество проводов и проведение эксперимента. DX-320 можно использовать в качестве источника постоянного тока и микровольтметра. Он используется для измерения концентрации носителей, подвижности, удельного сопротивления, коэффициента Холла и других важных параметров полупроводниковых материалов. Эти параметры необходимо контролировать заранее, чтобы понять электрические характеристики полупроводниковых материалов. Таким образом, система испытаний на эффекте Холла является необходимым инструментом для понимания и изучения электрических характеристик полупроводниковых приборов и материалов. Результаты эксперимента автоматически рассчитываются с помощью программного обеспечения, и одновременно могут быть получены концентрация объемных носителей, концентрация пластинчатых носителей, подвижность, удельное сопротивление, коэффициент Холла, магнитосопротивление.
Система приборов состоит из постоянного магнита, высокоточного источника постоянного тока, высокоточного вольтметра, держателя образца на эффекте Холла, стандартного образца, высокоточного измерителя Гаусса и системного программного обеспечения. Эффектор DX-320, специально разработанный для этой инструментальной системы, включает в себя источник постоянного тока, шестиразрядный полумикровольтметр и сложный переключающий релейный переключатель для измерения Холла, что значительно сокращает количество проводов и проведение эксперимента. DX-320 можно использовать в качестве источника постоянного тока и микровольтметра. Он используется для измерения концентрации носителей, подвижности, удельного сопротивления, коэффициента Холла и других важных параметров полупроводниковых материалов. Эти параметры необходимо контролировать заранее, чтобы понять электрические характеристики полупроводниковых материалов. Таким образом, система испытаний на эффекте Холла является необходимым инструментом для понимания и изучения электрических характеристик полупроводниковых приборов и материалов. Результаты эксперимента автоматически рассчитываются с помощью программного обеспечения, и одновременно могут быть получены концентрация объемных носителей, концентрация пластинчатых носителей, подвижность, удельное сопротивление, коэффициент Холла, магнитосопротивление.
