Профилометр для оптических поверхностей SJ5720-OPT100/200
Цену уточняйте
- Под заказ
- Оптом и в розницу
- Код: SJ5720
Отправка с 11 февраля 2026
- +7 (708) 965-41-55Офис Call-центр
Серия SJ5720-OPT способна измерять как шероховатость поверхности, так и профиль после одного сканирования. Более того, для измерений и анализа больших асферических поверхностей имеется специализированный программный модуль, что делает эту серию идеальным решением для измерений в оптической линзовой промышленности.
Прибор также может использоваться для измерений профиля и шероховатости больших криволинейных поверхностей, таких как подшипники, искусственные суставы, прецизионные формы, шестерни, лезвия и другие. В связи с этим, он широко используется в точном машиностроении, автомобилестроении, производстве подшипников, станках, формах, прецизионной фурнитуре и других отраслях.
Особенности:
- Оценка параметров профиля и шероховатости за одно сканирование.
- Высокая точность, высокая стабильность и высокая повторяемость.
- Модуль программного обеспечения для асферической оптики.
- Интеллектуальная система управления и продвинутая система анализа данных.
- Интеллектуальная система защиты при сканировании.
- Гибкое ручное управление.
- Система изоляции вибраций с высокой стабильностью.
Технические характеристики:
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Модель | SJ5720-OPT100 |
| Измерение профиля | |
| Измерительный диапазон X | 0 ~ 100 мм |
| Измерительный диапазон Z | 0 ~ 300 мм |
| Измерительный диапазон Z1 | ±6 мм (Опционально: ±12 мм) |
| Разрешение | 0.001 мкм |
| Точность Z1 | ≤±(0.5 + 0.03 H) мкм (H, мм) |
| Точность Pt | Pt ≤ 0.2 мкм |
| Точность стандартного шара | ≤±(1 + R/20) мкм (R, мм) |
| Точность угла | ≤±1′ |
| Скорость движения | |
| Скорость X | 0 ~ 20 мм/с |
| Скорость Z | 0 ~ 20 мм/с |
| Скорость сканирования | 0.05 ~ 5 мм/с |
| Прямолинейность по оси X | ≤0.15 мкм/100 мм |
| Измерительная сила | 0.5 мН, 0.75 мН, 1 мН, 2 мН, 3 мН (Регулируемая) |
| Измерение шероховатости | |
| Диапазон измерения Ra | Ra 0.012 мкм ~ Ra 12.5 мкм |
| Точность Ra | Ra 0.012 мкм ~ Ra 3.2 мкм: ≤±(3 нм + 2.0% A), A(Ra) мкм |
| Ra 3.201 мкм ~ Ra 12.5 мкм: ≤±(3 нм + 3.5% A), A(Ra) мкм | |
| Повторяемость (1δ) | 1δ ≤ 1 нм |
| Остаточное измерение | Rq ≤ 3 нм |
| Параметры шероховатости | |
| Параметры шероховатости R | Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, RSm, RPc, Rdq, Rdc, Rmr, Rmax, Rpm, tp, Htp, Pc, Rda, Ry, Sm, S, Rpc, RzJ |
| Ключевые параметры шероховатости | Rk, Rpk, Rvk, Rpkx, Rvkx, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo |
| Параметры профиля | Pa, Pq, Pt, Pz, Pp, Pv, PSm, Psk, Pku, Pdq, Pdc, Pc, PPc, Pmr, Rad, PzJ, Pmax |
| Шероховатость профиля | Wa, Wq, Wt, Wz, Wp, Wv, WSm, Wsk, Wku, Wdq, Wdc, Wmr, Wpc, Wc |
| Мотивы | R, AR, W, AW, Rx, Wx, Wte |
| Стандарты | GB/T 3505-2009, ISO 4287:1997, ISO13565-2:1996, ASME B46.1-2002, DIN EN ISO 4287:2010, JIS B 0601:2013, JIS B 601-1994, JIS B 0601-1982, ISO 1302:2002 |
| Параметры асферического измерения | |
| Параметры микропрофиля | Pt, Pa, Fig |
| Параметры наклона | Smx, Smn |
| Параметры угла горизонтальной оси | Tilt |
| Параметры расстояния между оптической осью и контуром | Xp, Xv, Xt |
| Параметры корня среднеквадратичного отклонения | RMS |
| Параметры наклона | Slpe mx, Slpemx (x), Slperms |
| Параметры радиусной ошибки вершины | Radius Err |
| Фильтрация | |
| Фильтр | Гауссов фильтр, 2RC фильтр, фильтр с нулевой фазой |
| Длина выборки | 0.008, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8.0 или 25 мм (выборочно) |
| Длина оценки | Автоматический расчет |
| Размер | 600 × 350 × 890 мм |
| Вес | 195 кг |
- Цена: Цену уточняйте