Дифрактор тонких пленок

Описание:

Методы рентгеновского тестирования широко используются для характеристики различных материалов тонких плёнок. Материалы тонких плёнок отличаются от обычной порошковой рентгеновской дифракции (XRD), и существуют определённые ограничения и особенности тонких плёнок. Например, когда плёнка имеет сильную предпочтительную ориентацию, можно наблюдать только дифракцию определённых кристаллографических плоскостей, что объясняет, почему тестирование и характеристика плёнки сложнее, чем у обычных порошков.