ATP8900-2-C — это FTIR-спектрометр с двумя измерительными отсеками, предназначенный для независимой работы двух каналов. Прибор позволяет одновременно использовать ячейку диффузного отражения in-situ и ячейку пропускания in-situ, что устраняет необходимость частой замены аксессуаров.

Спектрометр может работать одновременно с детектором при комнатной температуре и низкотемпературным LN-MCT детектором, обеспечивая максимальную скорость сканирования до 60K.

Модель ATP8900-2-C имеет компактную и прочную конструкцию, предназначенную для многорежимных измерений: пропускание, ATR, диффузное отражение и зеркальное отражение. Два отсека для образцов позволяют значительно повысить эффективность работы без необходимости частой замены аксессуаров.

Прибор широко применяется для анализа твёрдых, жидких и газообразных образцов в сторонних лабораториях, а также для in-situ исследований различных типов катализаторов.

Особенности

• 2 канала и 2 отсека для образцов для независимой работы

• Простое автоматическое переключение каналов через программное обеспечение

• Автоматическая настройка 6 скоростей сканирования (2.5K – 3.0K)

• ПО автоматически преобразует спектры в формат Kubelka–Munk (K-M) для удобного сравнения спектров диффузного отражения

• Возможность сохранения или импорта фоновых спектров для сравнения с функцией напоминания о сроке их актуальности

• Просторный отсек для образцов, позволяющий устанавливать различные крупные ИК-аксессуары

• Хорошо коллимированный оптический путь, что позволяет использовать два отсека без необходимости замены крупных аксессуаров

• Делитель луча ZnSe (опционально), требующий минимального обслуживания

Многозадачные измерения

В лабораториях часто требуется анализировать различные типы образцов — твёрдые, жидкие и газообразные, используя различные модули, например ячейки пропускания или ATR-аксессуары.

В большинстве FTIR-спектрометров требуется менять аксессуары. ATP8900-2-C позволяет устанавливать стационарные аксессуары, а переключение оптического пути выполняется автоматически, обеспечивая высокую точность.

Доступные модули:

• Нагреваемая in-situ ячейка пропускания

• Высокотемпературная / высокодавленная in-situ ячейка диффузного отражения

• Высокотемпературная / вакуумная in-situ ячейка диффузного отражения

• Низкотемпературная / вакуумная in-situ ячейка диффузного отражения

• Прямое пропускание (параллельный падающий свет)

• Диффузное пропускание (с интегрирующей сферой)

• Измерение отражения (углы 10°, 30°, 45°, 80° и др.)

• ATR-измерения (кристаллы: алмаз, ZnSe, Ge)

• Измерение пропускания для твёрдых, жидких и газовых образцов