Конфокальный рамановский микроскоп для анализа графена ATR8800C

Конфокальный Raman-микроскоп ATR8800C для анализа графена предназначен для высокоточного исследования графеновых материалов и сочетает возможности конфокальной рамановской микроскопии, спектральной визуализации и автоматизированного картирования. Прибор обеспечивает высокую точность, скорость и чувствительность при анализе слоёв графена, исследовании дефектов, эффектов допирования и напряжений. Благодаря интеграции до четырёх лазеров возбуждения и технологии конфокального Raman-анализа система позволяет комплексно исследовать кристаллическую структуру, электронные свойства и механическое поведение графена.

ATR8800C обеспечивает высокоточную послойную характеризацию графена. Используя характерные G-полосу (~1580 см⁻¹) и 2D-полосу (~2700 см⁻¹) Raman-спектра графена, система позволяет точно определять количество слоёв материала. Для однослойного графена 2D-полоса имеет узкую симметричную форму, тогда как для двухслойного и многослойного графена она становится более широкой и асимметричной.

Высокое пространственное разрешение системы (<1 мкм) позволяет с высокой точностью анализировать Raman-пики и различать mono-, bi- и multilayer graphene. Анализ положения 2D-полосы и её ширины на полувысоте (FWHM) позволяет точно определять толщину графена и строить карты распределения слоёв по всей поверхности образца.

D-полоса (~1350 см⁻¹) и G-полоса (~1580 см⁻¹) используются для анализа дефектов графена. Отношение интенсивностей ID/IG позволяет оценивать плотность дефектов материала. ATR8800C поддерживает высокоразрешающее картирование дефектов, позволяя визуализировать распределение вакансий, дефектов, вызванных допированием, и границ зёрен по поверхности графена.

Система позволяет выявлять даже небольшие дефекты и выполнять точное пространственное картирование ID/IG, что особенно важно для оценки качества графена и его применения в наноэлектронике, сенсорах и системах хранения энергии.

ATR8800C также является эффективным инструментом для исследования допирования графена. Прибор позволяет выполнять неразрушающий высокоразрешающий анализ смещений G- и 2D-полос, возникающих при n- и p-допировании. Анализ сдвигов Raman-пиков позволяет исследовать изменения уровня Ферми и концентрации носителей заряда, что важно для разработки высокоэффективных электронных устройств и сенсоров на основе графена.

Механические свойства графена также могут исследоваться с помощью ATR8800C. Смещения G- и 2D-полос позволяют анализировать растягивающие и сжимающие напряжения в материале. Высокое пространственное разрешение прибора делает возможным построение карт распределения напряжений по поверхности графена, что особенно важно для nanoelectronics и гибких электронных устройств.

ATR8800C позволяет исследовать влияние подложки на Raman-спектр графена. Система может анализировать взаимодействие графена с подложками SiO₂/Si, SiC и другими материалами, выявляя изменения электронной структуры, упаковки слоёв и степени допирования. Эти исследования особенно важны для оптоэлектроники и фотодетекторов на основе графена.

Серия ATR8800C обеспечивает высокую чувствительность Raman-анализа с отношением сигнал/шум более 6000:1, что позволяет регистрировать даже очень слабые Raman-сигналы. Автоматическая фокусировка и автосканирование обеспечивают высокоскоростную визуализацию и удобную работу в режиме «одного клика».

Система поддерживает картирование областей размером до 100×100 мм с автоматической сшивкой изображений. Высококачественная оптика и 5-мегапиксельная камера обеспечивают получение точных и детализированных Raman-данных в реальном времени.

Optosky ATR8800C является мощным инструментом для исследований графена и современных материалов, обеспечивая высокую чувствительность, пространственное разрешение и надёжность при структурном, электронном и механическом анализе графеновых материалов.

Особенности:

• Гибкость выбора длин волн возбуждения:
  Поддержка до 4 длин волн возбуждения: 266 нм, 325 нм, 514 нм, 532 нм, 638 нм, 785 нм, 830 нм и 1064 нм. Возможны конфигурации с одним, двумя, тремя или четырьмя лазерами для универсального анализа материалов.
• Высокое пространственное разрешение:
  Размер лазерного пятна менее 1 мкм обеспечивает высокоточное картирование микроструктур, что особенно важно для графена, наноматериалов и тонких плёнок.
• Сверхвысокое спектральное разрешение:
  Спектральное разрешение до 0.35 см⁻¹ позволяет выполнять детальный химический анализ и точно определять свойства материалов на молекулярном уровне.
• Автоматическая фокусировка и сканирование:
  Полностью автоматические функции фокусировки и сканирования обеспечивают быстрое и высокоточное исследование микронных объектов менее чем за 2 секунды.
• Современная оптическая система:
  Специализированные Raman-объективы обеспечивают лазерное пятно, ограниченное дифракционным пределом, повышая отношение сигнал/шум и стабильность спектров.
• Высокая чувствительность:
  Отношение сигнал/шум более 6000:1 позволяет регистрировать очень слабые Raman-сигналы и проводить анализ низкоконцентрированных и следовых компонентов.
• Камера высокого разрешения:
  5-мегапиксельная камера обеспечивает визуализацию в реальном времени с высокой чёткостью изображения и точным контролем Raman-сигнала.
• Большая область сканирования:
  Поддержка автоматической сшивки изображений позволяет выполнять картирование областей до 100 × 100 мм и получать полные Raman-данные по крупным образцам.
• Герметичная камера образца:
  Закрытая конструкция измерительного отсека обеспечивает стабильные условия анализа и позволяет проводить измерения без отключения освещения в лаборатории.
• Интеграция с программным обеспечением:
  Интуитивное ПО поддерживает объединение многодиапазонных спектров, расширенную обработку данных и крупномасштабную Raman-визуализацию.
• Быстрый неразрушающий анализ:
  Метод позволяет быстро исследовать внутренние свойства материалов, включая количество слоёв графена, дефекты, допирование и механические напряжения.
• Поворотная дифракционная решётка:
  Использование поворотной решётки расширяет спектральный диапазон и повышает точность выбора длины волны, обеспечивая получение высококачественных Raman-спектров.