Сканирующий спектрометр с дифракционной решеткой ATP7810

ATP7810 — это широкодиапазонный спектрометр высокого разрешения. Измерения в ATP7810 строятся на принципе сканирования длин волн с помощью поворота дифракционной решетки под программным управлением, что позволяет получать высокоточные результаты. Для обеспечения высокой разрешающей способности в системе ATP7810 применяется оптическая схема, оптимизированная методом компьютерного моделирования. Спектрометры серии предлагают гибкие возможности комплектации: в зависимости от задач могут использоваться как одноточечные (одноэлементные) детекторы, так и различные типы матричных камер.
Прибор поддерживает ввод излучения через волоконно-оптический кабель со стандартным разъемом SMA905 или из свободного пространства. Вывод измеренных спектральных данных на ПК или контроллер осуществляется через порты USB 2.0 или UART.

Основные характеристики

•  Тип детектора: Охлаждаемый детектор, минимальная температура охлаждения может достигать -30 °C

Оптические параметры

•  Размер щели: 50 мкм (опционально 5, 10, 25, 50, 100, 150, 200 мкм)

Физические параметры

•  Размеры: 169 × 112 × 88 мм
•  Вес: 1200 ± 200 г

Электрические и эксплуатационные параметры

•  Разрядность АЦП (глубина): 24 бита
•  Интерфейс вывода данных: USB 2.0
•  Напряжение питания: 12 В постоянного тока (DC) ±5%
•  Рабочая температура: от -20 °C до +45 °C
•  Температура хранения: от -30 °C до +70 °C
•  Рабочая влажность: < 90% RH (без конденсации)

Области применения:

• Спектры поглощения (Absorption), отражения (Reflection) и пропускания (Transmission)
• Поверхностная спектроскопия (Surface Spectrum)
• Инфракрасная спектроскопия (IR)