Продавец Martukbrothers LLP развивает свой бизнес на Satu.kz 10 лет.
Знак PRO означает, что продавец пользуется одним из платных пакетов услуг Satu.kz с расширенными функциональными возможностями.
Создать сайт на Satu.kz
Корзина
+7 (708) 965-41-55
martuk.kz
Корзина

Микроманипулятор T2007A1-R

Цену уточняйте

  • Под заказ
  • Оптом и в розницу
  • Код: T2007A1-R
clockОтправка с 30 августа 2026
Микроманипулятор T2007A1-R
Микроманипулятор T2007A1-RПод заказ
Цену уточняйте
+7 (708) 965-41-55
Офис Call-центр
+7 (708) 965-41-55
Офис Call-центр

Заказ только по телефону

Микроманипулятор Ossila предназначен для высокоточного позиционирования измерительных зондов, инструментов и других рабочих элементов при проведении исследований под микроскопом. Он обеспечивает плавное, стабильное и воспроизводимое перемещение с микронной точностью, позволяя работать с электронными компонентами, двумерными материалами, полупроводниковыми структурами и отдельными клетками.

Благодаря прецизионным линейным направляющим микроманипулятор обеспечивает плавное перемещение с минимальным люфтом и дрейфом. Стандартная микрометрическая головка позволяет выполнять позиционирование с точностью до 4 мкм, а версия с микрометрической головкой повышенной точности — до 2 мкм.

Микроманипулятор оснащен вольфрамовым измерительным зондом с диаметром наконечника 20 мкм, обеспечивающим надежный электрический контакт при тестировании электронных устройств и материалов.

Конструкция предусматривает независимое управление по трем координатам (X, Y, Z) с ходом 6,5 мм по шкале микрометрической головки. Магнитное основание обеспечивает надежную фиксацию на ферромагнитной поверхности, а компактные размеры позволяют использовать несколько микроманипуляторов одновременно в составе одной измерительной установки.

Доступны две модификации микроманипулятора:

  • разрешение отсчета 10 мкм (минимальное перемещение 4–8 мкм);
  • разрешение отсчета 5 мкм (минимальное перемещение 2–4 мкм).

Технические характеристики

Система позиционирования

Параметр T2007A1 T2007B1
Оси перемещения X, Y, Z X, Y, Z
Механизм точного перемещения Микрометрическая головка Микрометрическая головка с мелким шагом резьбы
Максимальный ход по каждой оси 10 мм 10 мм
Шкала микрометрической головки 6,5 мм 6,5 мм
Разрешение отсчета микрометрической головки 10 мкм 5 мкм
Шаг резьбы микрометрической головки 50 ниток/дюйм (TPI) 100 ниток/дюйм (TPI)
Минимальное перемещение Приблизительно 4–8 мкм Приблизительно 2–4 мкм
Максимальный диаметр устанавливаемого зонда 0,8 мм 0,8 мм

Измерительный зонд

Параметр Значение
Материал зонда Вольфрам чистотой более 99,95 %
Диаметр наконечника зонда 20 мкм
Ток утечки зонда Менее 100 пА при ±75 В DC
Сопротивление цепи зонда Не более 0,3 Ом
Длина зонда 32 мм
Диаметр стержня зонда 0,508 мм
Тип подключения SMA

 

Преимущества

Прецизионное позиционирование по трем осям

Микроманипулятор обеспечивает высокоточное перемещение измерительного зонда по осям X, Y и Z с минимальным шагом позиционирования до 2 мкм. Прецизионные линейные направляющие гарантируют плавное и воспроизводимое перемещение, а подпружиненные опоры устраняют люфт, обеспечивая высокую точность измерений.


Удобное ручное управление

Микрометрические головки расположены в соответствии с направлениями перемещения по каждой оси, что обеспечивает интуитивно понятное управление без необходимости отвлекаться от работы с микроскопом. Магнитное основание позволяет надежно закрепить микроманипулятор на рабочей поверхности и использовать его совместно с зондовой станцией Ossila Probe Station.


Электрические измерения постоянного тока

Низкий ток утечки и малое сопротивление измерительной цепи обеспечивают высокую точность электрических измерений. Разъем SMA позволяет быстро подключить микроманипулятор к источнику-измерителю (SMU) и другому измерительному оборудованию. Фиксатор коаксиального кабеля снижает влияние вибраций и электрических помех на результаты измерений.


Гибкая конфигурация

Конструкция микроманипулятора позволяет использовать различные рабочие инструменты, включая измерительные зонды, шприцы, микропипетки, вакуумные иглы, оптические волокна и другие приспособления. Это обеспечивает возможность адаптации системы к различным исследовательским и измерительным задачам.

Области применения

  • Электрическая характеризация электронных устройств и компонентов.
  • Исследование электрических свойств полупроводников, 2D-материалов и наноструктур.
  • Тестирование полупроводниковых пластин (Wafer Testing).
  • Анализ отказов электронных устройств.
  • Исследование оптоэлектронных компонентов (LED, фотодиоды, лазерные диоды).
  • Электрофизиологические исследования.
  • Клеточная биология и генетическая инженерия.

 

Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте