Система измерения I–V характеристик солнечных элементов T2003B3
Цену уточняйте
- Под заказ
- Оптом и в розницу
- Код: T2003B3
Отправка с 01 сентября 2026
Система измерения I–V характеристик солнечных элементов Ossila Solar Cell I–V System предназначена для характеризации фотоэлектрических устройств. Программное обеспечение для ПК, входящее в комплект поставки всех конфигураций системы, измеряет вольт-амперную характеристику солнечного элемента и автоматически рассчитывает основные параметры устройства.
Система позволяет выполнять как разовые измерения I–V кривых, так и периодические измерения во времени для оценки стабильности характеристик солнечного элемента. Это удобно при исследовании деградации, долговечности и изменения параметров фотоэлектрических устройств в процессе испытаний.
Доступные конфигурации:
| Конфигурация | Описание |
|---|---|
| Ручная система | Переключение между пикселями выполняется вручную с помощью переключателей на тестовой плате. |
| Автоматическая система | Переключение между пикселями выполняется автоматически с помощью мультиплексирующей тестовой платы. |
В автоматической конфигурации система использует мультиплексирующую тестовую плату для последовательного подключения к отдельным пикселям фотоэлектрического устройства без ручного переключения. Это ускоряет измерения и позволяет отслеживать параметры стабильности и долговечности для нескольких пикселей на одной подложке.
Технические характеристики
Источник напряжения
| Диапазон | Точность | Прецизионность | Разрешение |
|---|---|---|---|
| ±10 В | 10 мВ | 333 мкВ | 170 мкВ |
Измерение напряжения
| Диапазон | Точность | Прецизионность | Разрешение |
|---|---|---|---|
| ±10 В | 10 мВ | 50 мкВ | 10 мкВ |
Измерение тока
| Диапазон | Точность | Прецизионность | Разрешение | Напряжение нагрузки |
|---|---|---|---|---|
| ±200 мА | ±500 мкА | 10 мкА | 1 мкА | <20 мВ |
| ±20 мА | ±10 мкА | 1 мкА | 100 нА | <20 мВ |
| ±2 мА | ±1 мкА | 100 нА | 10 нА | <20 мВ |
| ±200 мкА | ±100 нА | 10 нА | 1 нА | <20 мВ |
| ±20 мкА | ±10 нА | 1 нА | 0,1 нА | <20 мВ |
Физические характеристики
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Совместимые подложки | S211, S2006, S241, S251 |
| Совместимые тестовые платы | T2002B, T2003B, T2002E, T2003E, T2002F, T2003F |
| Габариты автоматической системы, Ш×В×Г | 150 × 55 × 300 мм |
| Габариты ручной системы, источник-измеритель, Ш×В×Г | 125 × 55 × 185 мм |
| Габариты тестовой платы T2002B / T2002E, Ш×В×Г | 105 × 40 × 125 мм |
| Габариты тестовой платы T2002F, Ш×В×Г | 100 × 40 × 150 мм |
Преимущества
Автоматический расчет параметров солнечного элемента
Программное обеспечение автоматически рассчитывает основные параметры солнечного элемента по измеренной I–V кривой: эффективность преобразования энергии PCE, коэффициент заполнения FF, плотность тока короткого замыкания Jsc, напряжение холостого хода Voc, максимальную мощность Pmax, шунтирующее сопротивление Rsh и последовательное сопротивление Rs.
Быстрая характеризация образцов
При использовании совместимых подложек Ossila система может поставляться с мультиплексирующей тестовой платой для автоматического переключения пикселей. Во время измерения также фиксируются температура и освещенность.
Широкий диапазон измерений
Система задает напряжение в диапазоне от −10 до +10 В с максимальным разрешением 170 мкВ и измеряет токи от ±10 нА до ±200 мА.
Оценка стабильности устройства
Система поддерживает повторные измерения I–V характеристик в течение длительного времени, что позволяет отслеживать стабильность основных параметров фотоэлектрического устройства.
Программное обеспечение
Программное обеспечение для ПК позволяет выполнять измерения вольт-амперных характеристик солнечных элементов в диапазоне напряжения от −10 до +10 В. Минимальный шаг задания напряжения составляет 170 мкВ, что позволяет проводить измерения с высоким разрешением.
ПО поддерживает настройку времени стабилизации между подачей напряжения и измерением тока, а также последовательные измерения в прямом и обратном направлении для оценки гистерезиса устройства.
Доступны четыре режима измерений:
| Режим | Назначение |
|---|---|
| Solar Cell Characterization | Измерение I–V характеристики и расчет основных параметров солнечного элемента |
| Stabilized Current Output | Отслеживание изменения выходного тока устройства во времени |
| Solar Lifetime Measurement | Периодические I–V измерения для оценки стабильности PCE, FF, Jsc и Voc в течение длительного времени |
| Maximum Power Point Tracking | Отслеживание точки максимальной мощности, плотности тока Jmp и рабочего напряжения Vmp во времени |
Комплект поставки
Автоматическая система- автоматическая система Solar Cell I–V;
- сменная плата-переходник для выбранной системы подложек;
- резисторное тестовое устройство;
- адаптер питания 24 VDC;
- кабель USB-B;
- USB-накопитель с руководством пользователя, установщиком программного обеспечения и данными контроля качества;
- USB-драйвер с данными контроля качества.
- источник-измеритель;
- тестовая плата для выбранной системы подложек;
- BNC-кабель;
- резисторное тестовое устройство;
- адаптер питания 24 VDC;
- кабель USB-B;
- USB-накопитель с руководством пользователя, установщиком программного обеспечения и данными контроля качества;
- USB-драйвер с данными контроля качества.
- Цена: Цену уточняйте