XRF-анализатор толщины покрытий GA-1610D
Цену уточняйте
- Под заказ
- Оптом и в розницу
- Код: GA-1610D
Отправка с 06 октября 2026
XRF-анализатор толщины покрытий GA-1610DПод заказ
Цену уточняйте
+77089654155
- +7 (708) 965-41-55Офис Call-центр
GA-1610D — рентгенофлуоресцентный анализатор для измерения толщины различных металлических покрытий и элементного анализа. Оборудование подходит для контроля покрытий на печатных платах, выводных рамках, санитарных изделиях, мелких деталях, крупногабаритных заготовках и изделиях сложной формы. Прибор может использоваться для автоматического контроля большого количества точек измерения. Программируемая платформа позволяет выполнять серию измерений по заданной программе, а система распознавания изображений помогает автоматически находить позиции контроля.
Технические характеристики
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Модель | GA-1610D |
| Тип оборудования | XRF-анализатор толщины покрытий |
| Метод анализа | Рентгенофлуоресцентный анализ |
| Назначение | Измерение толщины покрытий и элементный анализ |
| Анализируемые элементы | Cl–U / S или Al–U / Li–U, зависит от конфигурации |
| Возможности анализа | Толщина покрытия + элементный анализ |
| Многослойный анализ | До 5 покрытий и 10 элементов / до 23 покрытий и 24 элементов, зависит от конфигурации |
| Алгоритм | EFP |
| Рентгеновская трубка | Микрофокусная рентгеновская трубка |
| Коллиматор | φ0,2 мм; φ0,5 мм; опции φ0,1 / φ0,3 мм, зависит от конфигурации |
| Дистанция измерения | 0–90 мм |
| Камера наблюдения | Цветная CCD 1/2.7″ с функцией увеличения |
| Фокусировка | Высокочувствительная линза, ручная фокусировка |
| Увеличение | Оптическое 38–46×, цифровое 40–200× |
| Детектор | Пропорциональный счетчик / Si-PIN, SDD опция |
| Перемещение платформы | Ручное или автоматический высокоточный XY-столик |
| Диапазон перемещения Z | 145 мм |
| Диапазон перемещения XY | 100 × 150 мм / 210 × 230 мм, зависит от конфигурации |
| Габариты | 550 × 760 × 635 мм |
| Масса | 100–120 кг, зависит от конфигурации |
Особенности
- измерение толщины различных металлических покрытий;
- элементный анализ покрытий и материалов;
- анализ раствора для гальванических покрытий;
- автоматическая программируемая платформа для серийных измерений;
- возможность контроля сотен точек по одной программе;
- AI-поиск и автоматическое сопоставление позиций измерения;
- возможность настройки онлайн-контроля на производственной линии;
- алгоритм EFP для многослойных покрытий и повторяющихся элементов в разных слоях;
- измерение крупногабаритных деталей и изделий сложной формы;
- система наблюдения образца с цветной CCD-камерой;
- возможность измерения на разной высоте / в углублениях до 90 мм
Информация для заказа
- Цена: Цену уточняйте