Продавец Martukbrothers LLP развивает свой бизнес на Satu.kz 10 лет.
Знак PRO означает, что продавец пользуется одним из платных пакетов услуг Satu.kz с расширенными функциональными возможностями.
Создать сайт на Satu.kz
Корзина
+7 (708) 965-41-55
martuk.kz
Корзина

XRF-анализатор толщины покрытий GA-1611U

Цену уточняйте

  • Под заказ
  • Оптом и в розницу
  • Код: GA-1611U
clockОтправка с 06 октября 2026
XRF-анализатор толщины покрытий GA-1611U
XRF-анализатор толщины покрытий GA-1611UПод заказ
Цену уточняйте
+77089654155
  • +7 (708) 965-41-55
    Офис Call-центр
+77089654155
  • +7 (708) 965-41-55
    Офис Call-центр

Заказ только по телефону

GA-1611U — компактный рентгенофлуоресцентный анализатор для измерения толщины металлических покрытий и элементного анализа. Прибор применяется для контроля гальванических покрытий, электронных компонентов, крепежа, автомобильных деталей, ювелирных изделий, радиаторов и других изделий с однослойными и многослойными покрытиями. Анализатор оснащается микрофокусным рентгеновским источником, цветной CCD-камерой с увеличением и высокоточным XY-столиком. Конструкция с нижним измерением позволяет работать с образцами сложной формы, углублениями и неровными поверхностями.

Технические характеристики

Параметр Значение
Модель GA-1611U / XU-100
Тип оборудования XRF-анализатор толщины покрытий
Метод анализа Рентгенофлуоресцентный анализ
Назначение Измерение толщины покрытий, элементный анализ
Диапазон анализа покрытий Li–U
Элементный анализ Cl–U
Анализ многослойных покрытий До 23 покрытий и 24 элементов одновременно
Минимальный предел определения толщины 0,005 мкм
Время анализа 1–30 с
Детектор Пропорциональный счетчик
Рентгеновская трубка Микрофокусная рентгеновская трубка
Коллиматор φ0,1 мм; φ0,2 мм; φ0,5 мм
Дистанция измерения 0–30 мм
Камера Цветная CCD 1/2,7″ с функцией увеличения
Увеличение Оптическое 38–46×, цифровое 40–200×
Столик Высокоточный XY-столик, ручное управление
Диапазон перемещения XY 50 × 50 мм
Высота камеры 210 мм
Габариты 470 × 550 × 480 мм
Масса 50 кг

Особенности

  • измерение толщины покрытий методом XRF;
  • неразрушающий контроль образцов;
  • нижнее измерение — удобно для фокусировки на образце;
  • подходит для деталей сложной формы и поверхностей с углублениями;
  • микрофокусная рентгеновская трубка;
  • высокоточный XY-столик;
  • цветная CCD-камера с увеличением;
  • измерение многослойных покрытий;
  • анализ повторяющихся элементов в разных слоях;
  • возможность анализа растворов гальваники с дополнительной оснасткой.
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте