XRF-анализатор RoHS GA-161CS / GA-1614C
Цену уточняйте
- Под заказ
- Оптом и в розницу
- Код: GA-161CS / GA-1614C
Отправка с 06 октября 2026
XRF-анализатор RoHS GA-161CS / GA-1614CПод заказ
Цену уточняйте
+77089654155
- +7 (708) 965-41-55Офис Call-центр
GA-161CS / GA-1614C — настольный рентгенофлуоресцентный анализатор для контроля RoHS, определения содержания вредных элементов, анализа толщины покрытий и элементного состава материалов. Прибор применяется для проверки электронных компонентов, покрытий, сплавов, гальванических изделий и других материалов. Анализатор поддерживает микрообластной контроль, измерение малых образцов и работу с вогнутыми или выпуклыми деталями за счет изменяемой дистанции измерения до 0–30 мм.
Технические характеристики
| Параметр | GA-161CS | GA-1614C |
|---|---|---|
| Тип оборудования | XRF RoHS-анализатор | XRF RoHS-анализатор |
| Назначение | RoHS, покрытия, элементный анализ | RoHS, покрытия, элементный анализ |
| Анализ покрытий | До 23 покрытий и 24 элементов одновременно | До 23 покрытий и 24 элементов одновременно |
| Диапазон анализа покрытий | Li–U | Li–U |
| RoHS-анализ, предел обнаружения | до 2 ppm | до 1 ppm |
| Элементный анализ | S–U | Al–U |
| Алгоритм | EFP | EFP |
| Время анализа | 3–200 с | 1–200 с |
| Детектор | Si-PIN полупроводниковый | SDD кремний-дрейфовый |
| Рентгеновская трубка | Микрофокусная усиленная | Микрофокусная усиленная |
| Коллиматоры | □0,1×0,3 мм; φ0,3 мм; φ1,2 мм; φ3 мм | □0,1×0,3 мм; φ0,3 мм; φ1,2 мм; φ3 мм |
| Фильтры | 4 фильтра, переключаемые | 4 фильтра, переключаемые |
| Измерительная дистанция | 0–30 мм | 0–30 мм |
| Камера наблюдения | Цветная CCD 1/2,7″ | Цветная CCD 1/2,7″ |
| Увеличение | Оптическое 38–46×, цифровое 40–200× | Оптическое 38–46×, цифровое 40–200× |
| Столик | Высокоточный ручной XY | Высокоточный ручной XY |
| Диапазон перемещения XY | 50 × 50 мм | 50 × 50 мм |
| Высота камеры образца | 210 мм | 210 мм |
| Габариты | 545 × 380 × 435 мм | 545 × 380 × 435 мм |
| Масса | 50 кг | 50 кг |
Особенности
- RoHS-анализ вредных элементов и галогенов.
- Измерение толщины покрытий.
- Элементный анализ состава материалов.
- Анализ до 23 слоев покрытий и 24 элементов одновременно.
- Возможность анализа повторяющихся элементов в разных слоях.
- Измерение малых образцов и микрообластей.
- Изменяемая дистанция измерения 0–30 мм.
- Цветная CCD-камера с увеличением.
- Ручной высокоточный XY-столик.
- Микрофокусная рентгеновская трубка.
- Модель GA-1614C оснащается более производительным SDD-детектором, поэтому имеет более низкий предел обнаружения и меньшее время анализа.
Информация для заказа
- Цена: Цену уточняйте