Продавец Martukbrothers LLP развивает свой бизнес на Satu.kz 10 лет.
Знак PRO означает, что продавец пользуется одним из платных пакетов услуг Satu.kz с расширенными функциональными возможностями.
Создать сайт на Satu.kz
Корзина
+7 (708) 965-41-55
martuk.kz
Корзина

XRF-спектрометр GA-8855

Цену уточняйте

  • Под заказ
  • Оптом и в розницу
  • Код: GA-8855
clockОтправка с 06 октября 2026
XRF-спектрометр GA-8855
XRF-спектрометр GA-8855Под заказ
Цену уточняйте
+77089654155
  • +7 (708) 965-41-55
    Офис Call-центр
+77089654155
  • +7 (708) 965-41-55
    Офис Call-центр

Заказ только по телефону

GA-8855 — настольный рентгенофлуоресцентный спектрометр для элементного анализа материалов, RoHS-контроля, проверки галогенов, анализа сплавов, покрытий и рудных образцов. Прибор применяется для контроля содержания вредных элементов, анализа легких элементов в сплавах, проверки состава покрытий и экологического контроля материалов. Спектрометр оснащен вакуумной тестовой системой, которая снижает влияние воздуха при определении легких элементов и расширяет диапазон анализа. В приборе используется SDD-детектор с электрическим охлаждением, без жидкого азота.

Технические характеристики

Параметр Значение
Модель GA-8855
Тип оборудования Настольный XRF-спектрометр
Метод анализа Рентгенофлуоресцентный анализ, XRF
Назначение RoHS-контроль, анализ галогенов, сплавов, покрытий, руд
Анализируемые материалы Сплавы, покрытия, руды, упаковочные материалы, изделия для RoHS-контроля
Области применения RoHS / halogen-free, анализ сплавов, анализ покрытий, анализ руды, контроль упаковки и игрушек
Диапазон содержания элементов 1 ppm – 99,99%
Предел обнаружения вредных элементов RoHS до 1 ppm для Cd, Pb, Cr, Hg, Br, Cl
Время измерения 100–300 с, регулируемое
Детектор SDD, кремний-дрейфовый детектор
Охлаждение детектора Электрическое, без жидкого азота
Энергетическое разрешение 129 ± 5 эВ
Система измерения Вакуумная тестовая система
Коррекция оптического пути 7 автоматически переключаемых систем коррекции и коллимации

Особенности

  • Рентгенофлуоресцентный анализ методом XRF.
  • Вакуумная система для улучшения анализа легких элементов.
  • SDD-детектор с электрическим охлаждением.
  • Анализ содержания элементов от 1 ppm до 99,99%.
  • Предел обнаружения вредных элементов RoHS до 1 ppm.
  • Регулируемое время измерения 100–300 секунд.
  • Автоматическое переключение систем коррекции оптического пути и коллимации.
  • Цифровая многоканальная обработка сигнала SES.
  • Автоматический запуск измерения одной кнопкой.
  • Контроль степени вакуума в реальном времени.
  • Возможность переключения между вакуумным и невакуумным режимом анализа.
  • Многоуровневая защита от утечки рентгеновского излучения.
Характеристики
Основные
ПроизводительSes
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте