Мобильный искровой оптико-эмиссионный спектрометр GA-1899 предназначен для анализа элементного состава металлических материалов в производственных и полевых условиях. Прибор применяется для входного контроля сырья, идентификации и сортировки сплавов, контроля оборудования нефтехимических предприятий и анализа металлического лома. Измерение выполняется при помощи выносного пистолета возбуждения, который подводится непосредственно к поверхности исследуемого объекта. Искровой режим используется для количественного анализа состава сплава, включая определение углерода, а дуговой режим — для сортировки материалов и идентификации марки. Производителем также заявлено определение P, S, B, Sn и As в стали с применением специальной оптической системы. Спектрометр оснащен оптической системой Пашена — Рунге, линейными CCD/CMOS-детекторами, цифровым искровым источником и встроенным промышленным компьютером. Основной блок может устанавливаться на складную мобильную тележку, а дополнительный аккумуляторный блок позволяет выполнять измерения вдали от стационарной электросети.
Технические характеристики
| Параметр |
Значение |
| Модель |
GA-1899 |
| Тип оборудования |
Мобильный искровой оптико-эмиссионный спектрометр |
| Метод анализа |
Искровая и дуговая оптико-эмиссионная спектрометрия |
| Назначение |
Количественный элементный анализ, идентификация и сортировка металлических сплавов |
| Тип образцов |
Трубы, прутки, клапаны, сварные соединения, резервуары, отливки, проволока, детали и другие твердые металлические объекты |
| Определяемые неметаллические элементы |
C, P, S, B; также заявлено определение Sn и As в стали |
| Спектральный диапазон |
170–200 нм и 200–650 нм |
| Оптическая схема |
Пашен — Рунге, круговая оптическая система Роуланда |
| Конструкция оптической системы |
Две оптические камеры с аргоновой продувкой |
| Фокусное расстояние решетки |
350 мм |
| Дифракционная решетка |
3600 штрихов/мм |
| Детекторы |
Несколько линейных матричных CCD и CMOS |
| Разрешение пикселя |
30 пм |
| Дисперсия спектральных линий первого порядка |
1,2 нм/мм |
| Температура оптической камеры |
34 ± 0,5 °C, автоматическое термостатирование |
| Коррекция спектрального дрейфа |
Автоматический поиск пиков с точностью до 0,1 пикселя |
| Источник возбуждения |
Полностью цифровой плазменно-искровой источник |
| Частота возбуждения |
100–1000 Гц |
| Ток возбуждения |
1–80 А |
| Режимы возбуждения |
Искровой и дуговой |
| Аналитический зазор |
4 мм |
| Пистолет возбуждения |
Открытого типа, для анализа крупногабаритных образцов |
| Интерфейсы |
USB, интерфейс подключения дисплея, принтера и локальной сети |
| Компьютер |
Встроенный промышленный компьютер |
| Процессор |
AMD Athlon 64 X2 5200+ |
| Оперативная память |
1 ГБ DDR2 |
| Жесткий диск |
Более 250 ГБ |
| Оптический привод |
DVD |
| Дисплей |
ЖК-дисплей 12″ |
| Операционная система |
Windows 7 |
| Язык программного обеспечения |
Китайский или английский |
| Электропитание |
220 В, 50 Гц |
| Мощность источника возбуждения |
300 Вт |
| Потребляемая мощность в режиме ожидания |
100 Вт |
| Предохранитель |
10 А, медленного срабатывания |
| Требуемый газ |
Аргон чистотой 99,999% |
| Давление аргона на входе в прибор |
0,5 МПа |
| Габариты основного блока |
600 × 345 × 345 мм |
| Масса основного блока |
25 кг |
| Автономное питание |
Опциональный аккумуляторный блок |
| Мобильное исполнение |
Складная транспортировочная тележка |
Особенности
- Анализ металлов непосредственно на производственном объекте.
- Выносной пистолет возбуждения для крупногабаритных и неподвижных деталей.
- Искровой режим для количественного анализа состава сплавов.
- Дуговой режим для сортировки и идентификации материалов.
- Определение углерода и других неметаллических элементов в сталях.
- Спектральный диапазон до 650 нм.
- Линейные CCD/CMOS-детекторы.
- Автоматическая коррекция спектрального дрейфа.
- Настройка частоты и тока возбуждения через программное обеспечение.
- Быстрая замена электродов и держателей без инструмента.