Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр Thermo Scientific K-Alpha

Thermo Scientific K-Alpha — интегрированная XPS-система для быстрого и эффективного химического анализа поверхности. В конструкции используется прецизионная вакуумная камера, микрофокусированный монохроматический источник Al Kα, высокоэффективный электронный спектрометр, система компенсации заряда и автоматизированный ионный источник. Система предназначена для исследования элементного состава, химического состояния и распределения компонентов на поверхности, а также для профилирования по глубине.

Технические характеристики

Особенности

Высокопроизводительная XPS-система

K-Alpha предназначен для быстрого и точного химического анализа поверхности и сочетает высокую производительность с автоматизированным рабочим процессом.

Микрофокусированный рентгеновский источник

Монохроматический источник Al Kα позволяет выбирать размер рентгеновского пятна от 50 до 400 мкм с шагом 5 мкм, что удобно для локального анализа участков образца.

Высокоточный анализатор

Полусферический анализатор с двойной фокусировкой и 128-канальным детектором обеспечивает регистрацию XPS-спектров в диапазоне кинетической энергии 5–1500 эВ.

Компенсация заряда

Двухлучевая электронно-ионная система нейтрализации заряда позволяет проводить анализ непроводящих и изолирующих материалов.

Профилирование по глубине

Автоматизированный ионный источник с энергией 200 эВ–4 кэВ используется для послойного травления и очистки поверхности образцов.

XPS SnapMap

Функция SnapMap обеспечивает быстрое химическое картирование выбранных областей поверхности и упрощает поиск интересующего участка образца.

Автоматизированный 4-осевой столик

Высокоточный столик обеспечивает автоматическое позиционирование образцов размером до 60 × 60 × 20 мм.

Вакуумный перенос образцов

Опциональный модуль позволяет переносить чувствительные к воздуху образцы из инертной среды в спектрометр без контакта с атмосферой.

Корреляционный XPS/SEM-анализ

Специальный держатель позволяет использовать одни и те же образцы для анализа в XPS- и SEM-системах с сохранением положения исследуемых областей.

Программное обеспечение Avantage

ПО обеспечивает управление прибором, получение спектров, картирование, линейное сканирование, профилирование по глубине, обработку результатов и автоматическое формирование отчетов.

Применение

• анализ элементного состава поверхности;
• определение химического состояния элементов;
• исследование тонких пленок и покрытий;
• анализ полупроводниковых материалов;
• исследование наноматериалов;
• анализ оксидов и металлических поверхностей;
• исследование полимеров;
• анализ аккумуляторных и электродных материалов;
• исследование катализаторов;
• анализ 2D-материалов;