Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр Thermo Scientific ESCALAB QXi
Цену уточняйте
- Под заказ
- Оптом и в розницу
- Код: ESCALAB QXi
Отправка с 31 октября 2026
Thermo Scientific ESCALAB QXi — высокопроизводительный рентгеновский фотоэлектронный микрозонд для количественного анализа химического состава и химического состояния поверхности. Система представляет собой расширяемую мультиметодную платформу с интегрированным управлением, сбором и обработкой данных через программное обеспечение Avantage. Прибор поддерживает спектроскопию больших и малых областей, быстрое параллельное XPS-картирование, профилирование по глубине и угловую XPS-спектроскопию.
Технические характеристики
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Модель | ESCALAB QXi |
| Основной метод | XPS / РФЭС |
| Анализатор | Сферический секторный, двойная фокусировка, 180° |
| Рентгеновский источник | Микрофокусированный монохроматический |
| Монохроматор | Двойной кристалл, круг Роуланда 0,5 м |
| Анод | Алюминиевый, многопозиционный |
| Дополнительный анод | Ag, опционально |
| Пространственное разрешение XPS-картирования | <3 мкм |
| Минимальный размер области SAXPS | <5 мкм |
| Манипулятор образца | Автоматизированный, 5-осевой |
| Компенсация заряда | Есть |
| Профилирование по глубине | Есть |
| ISS | Стандарт |
| REELS | Стандарт |
| Программное обеспечение | Thermo Scientific Avantage |
Спектроскопия больших областей LAXPS
Высокоэффективные линзы и детекторы обеспечивают высокую чувствительность при анализе больших площадей. Высокоразрешающие спектры могут регистрироваться за короткое время. Для расширения динамического диапазона используются шестиканальные электронные умножители.
Спектроскопия малых областей SAXPS
ESCALAB QXi позволяет выполнять локальный анализ участков размером от более 900 мкм до менее 5 мкм. Выбор области анализа осуществляется программно с визуальным контролем положения участка.
XPS-картирование
Быстрое параллельное картирование XPI обеспечивает получение химических XPS-изображений с пространственным разрешением менее 3 мкм.
Поддерживаются:
- картирование больших и малых объектов;
- количественная визуализация химического состояния;
- получение стеков изображений;
- PCA-анализ изображений состава.
Профилирование по глубине
Ионный источник обеспечивает высокую плотность тока даже при низкой энергии пучка. Автоматическая настройка источника используется для оптимизации качества кратера и скорости профилирования.
Поддерживаются азимутальное вращение образца, вращение вне оси, компьютерное управление и автоматическая подача газа.
Особенности
Высокое пространственное разрешение
XPS-картирование выполняется с разрешением менее 3 мкм, а локальный спектроскопический анализ — на участках размером менее 5 мкм.
Количественная химическая визуализация
Система позволяет получать карты распределения отдельных химических состояний и выполнять анализ состава изображений.
Анализ диэлектриков
Автоматическая компенсация заряда обеспечивает работу с непроводящими образцами.
Мультиметодная платформа
Помимо XPS, стандартно доступны ISS и REELS; опционально — UPS, AES, SEM, SAM, EDS и другие методы.
- Цена: Цену уточняйте