Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр Thermo Scientific Nexsa G2

hermo Scientific Nexsa G2 — полностью автоматизированная высокопроизводительная XPS-система для анализа химического состава и химического состояния поверхности материалов. Она предназначена как для научных исследований и разработки новых материалов, так и для решения производственных задач. Главная особенность Nexsa G2 — возможность объединения XPS с дополнительными методами поверхностного анализа, включая ISS, UPS, REELS и рамановскую спектроскопию, что позволяет выполнять корреляционные исследования одного и того же участка образца.

Технические характеристики

Особенности

Корреляционный XPS-Raman анализ

Опциональный рамановский спектрометр располагается по отношению к той же зоне анализа, что позволяет сопоставлять химическую информацию XPS с молекулярной и структурной информацией Raman.

Высокая пространственная локализация

Минимальный диаметр рентгеновского пятна составляет 10 мкм, что позволяет исследовать небольшие особенности поверхности.

Полностью автоматизированная система

Управление источниками, сбор данных, обработка результатов и формирование отчётов выполняются через Avantage Software.

Анализ чувствительных к воздуху образцов

Вакуумный транспортный модуль позволяет переносить образцы из перчаточного бокса в прибор без контакта с атмосферой.

Применение

• аккумуляторные материалы;
• полупроводники;
• тонкие пленки;
• наноматериалы;
• графен и 2D-материалы;
• полимеры;
• OLED-материалы;
• металлы и оксиды;
• катализаторы;