DX-100 Оборудование для измерения эффекта Холла
Цену уточняйте
- Под заказ
- Код: DX-100
Отправка с 18 декабря 2026
DX-100 Оборудование для измерения эффекта Холла используется для измерения важных параметров, таких как концентрация носителей, подвижность, удельное сопротивление, коэффициент Холла и другие важные параметры. Эти параметры необходимы для понимания электрических свойств полупроводниковых материалов, поэтому измерительное оборудование является необходимым инструментом для понимания и изучения электрических свойств полупроводниковых приборов и полупроводниковых материалов.
Системный измеритель источника DX-320
Измеритель эффектов DX-320, специально разработанный для этой системы приборов, объединяет источник постоянного тока и переключатель (микровольтметр шесть с половиной и коммутационное реле Холла) в одно целое. Сильно сократилось подключение и работа эксперимента. DX-320 можно использовать отдельно как постоянный поток и микровольт.
Параметры оборудования для измерения эффекта Холла DX-100:
| Физические параметры | Концентрация носителя | 10³cm⁻³ - 10²³cm⁻³ |
| Мобильность | 0,1 см²/вольт*сек - 10⁸см²/вольт*сек | |
| Диапазон удельного сопротивления | 10⁻⁷ Ом*см - 10¹² Ом*см | |
| Напряжение Холла | 1 uV - 3V | |
| Коэффициент Холла | 10⁻⁵ - 10²⁷cm³/ C | |
| Тип проверяемого материала | Полупроводниковый материал | SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe, ферритовые материалы и т. д. |
| материал с низким сопротивлением | Графен, металлы, прозрачные оксиды, слабомагнитные полупроводниковые материалы, материалы TMR и т. д. | |
| материал с высоким сопротивлением | Полуизоляционные GaAs, GaN, CdTe и т. д. | |
| Проводящие частицы материала | Испытание материалов типа P и типа N | |
| Магнитное поле | Тип магнита | Регулируемый электромагнит |
| Величина магнитного поля | 1900mT (Шаг полюсов 10 мм) 600mT (шаг опоры 50 мм) | |
| Равномерная площадь: 1% | Минимальное разрешение: 0,1Gs | |
| Дополнительная магнитная среда | Электромагнит соответствующего магнитного размера может быть настроен в соответствии с потребностями клиентов. | |
| Электрические параметры | Источник тока | 50.00nA- 50.00mA |
| Разрешение текущего источника | 0.0001uA | |
| Измерение напряжения | 0 ~ ±3V | |
| Разрешение измерения напряжения | 0.0001 mV | |
| Другие аксессуары | Затенение | Установленные извне светозащитные детали делают испытуемый материал более стабильным |
| Размер выборки | обычный 10мм*10мм Максимум 16мм * 16мм | |
| Шкаф-коробка | 600*600*1000mm | |
| Образец для испытаний | Эффект Холла Института полупроводников Китайской академии наук. Стандартные тестовые образцы и данные: 1 комплект. (Si, Ge, GaAs, lnSb) | |
| Создание омических контактов | Электрический паяльник, индиевая микросхема, припой, эмалированная проволока и т. д. | |
| Автоматическое измерение одной кнопкой может быть выполнено без необходимости вмешательства человека после начала испытания. | ||
| Программное обеспечение может отображать кривую I-V и кривую BV. | ||
| Установлено программное обеспечение для автоматического измерения температуры. | ||
| Результаты эксперимента будут измерены, и данные будут временно сохранены в программном обеспечении. Если требуется долгосрочное хранение, данные можно экспортировать в таблицу EXCEL для облегчения последующей обработки данных. | ||
| Предоставьте стандартные образцы для испытаний на эффект Холла и данные Института полупроводников Китайской академии наук: 1 комплект. | ||
Тестируемые образцы измерения эффекта Холла:
Высокая и низкая температура Выбор оборудования для измерения эффекта Холла
| Модель системы | Температурная зона испытания | Индекс системного тестирования |
| DX-100 Система испытания на эффекте Холла при высоких и низких температурах | 80K ~ 500K (высокая и низкая температура, регулировка температуры 0,1K) | Минимальное разрешение: 0,1GS. |
| DX-100H Высокотемпературная система испытания на эффекте Холла | 300K ~ 500K (высокая температура, регулировка температуры 0,1K) | |
| DX-100L Низкотемпературная система испытания на эффекте Холла | 80K ~ 300K (низкая температура, регулировка температуры 0,1K) | |
| DX-200L Низкотемпературная система испытания на эффекте Холла | 4K ~ 300K (низкая температура, регулировка температуры 0,1K) | |
| DX-500 Система испытания на эффекте Холла при высоких и низких температурах | 80K ~ 800K (высокая и низкая температура, регулировка температуры 0,1K) | |
| DX-500H Высокотемпературная система испытания на эффекте Холла | 300 К ~ 800 К (высокая температура, регулировка температуры 0,1 К) |
| Основные | |
|---|---|
| Страна производитель | Китай |
| Материал | Металл |
- Цена: Цену уточняйте