DX-70 HMS — система измерения эффекта Холла
Цену уточняйте
- Под заказ
- Код: DX-70
Отправка с 18 декабря 2026
Знакомство с продуктом
DX-70 Система измерения эффекта Холла состоит из электромагнита, источника питания электромагнита, высокоточного источника постоянного тока, высокоточного вольтметра, матричной карты, держателя образца на эффекте Холла, стандартного образца и системного программного обеспечения.
В этом системном тесте HMS используется новейший импортный измерительный измерительный источник KEITHLEY в сочетании с соответствующей матричной платой с малой задержкой и высокой пропускной способностью, что значительно улучшает диапазон и точность измерения тока источника питания образца и напряжения Холла тестового образца. Широкий источник питания и широкий диапазон испытаний напряжения могут охватить большинство полупроводниковых устройств, представленных на рынке.
Результаты эксперимента автоматически рассчитываются с помощью программного обеспечения, и одновременно можно получить такие параметры, как концентрация объемного носителя, концентрация листового носителя, подвижность, удельное сопротивление, коэффициент Холла и магнитосопротивление.
Параметры системы измерения Холла DX-70:
| Физические параметры | Концентрация носителя | 10³cm⁻³ - 10²³cm⁻³ |
| Мобильность | 0,1 см²/вольт*сек - 10⁸см²/вольт*сек | |
| Диапазон удельного сопротивления | 10⁻⁷ Ом*см - 10¹² Ом*см | |
| Напряжение Холла | 1 uV - 3V | |
| Коэффициент Холла | 10⁻⁵ - 10²⁷cm³/ C | |
| Тип проверяемого материала | Полупроводниковый материал | SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe, ферритовые материалы и т. д. |
| материал с низким сопротивлением | Графен, металлы, прозрачные оксиды, слабомагнитные полупроводниковые материалы, материалы TMR и т. д. | |
| материал с высоким сопротивлением | Полуизоляционные GaAs, GaN, CdTe и т. д. | |
| Проводящие частицы материала | Испытание материалов типа P и типа N | |
| Магнитное поле | Тип магнита | Регулируемый электромагнит |
| Величина магнитного поля | 1070mT (Шаг полюсов 10 мм) 687mT (Шаг полюсов 20 мм) 500mT (шаг опоры 30 мм) 378mT (Шаг полюсов 40 мм) 293mT (шаг опоры 50 мм) | |
| Единая область | 1% | |
| Дополнительная магнитная среда | Электромагнит соответствующего магнитного размера может быть настроен в соответствии с потребностями клиентов. | |
| Электрические параметры | Источник тока | ±0.1nA- ±1000mA |
| Разрешение текущего источника | 0.001uA | |
| Измерение напряжения | ±10nV ~ ±200V | |
| Разрешение измерения напряжения | 0.0001 mV | |
| Другие аксессуары | Затенение | Внешние партнеры установили светозащитные детали, чтобы сделать испытуемый материал более стабильным. |
| Размер выборки | Максимум 30мм * 30мм | |
| Шкаф-коробка | 600*600*1000mm | |
| Образец для испытаний | Эффект Холла Института полупроводников Китайской академии наук. Стандартные тестовые образцы и данные: 1 комплект. (Si, Ge, GaAs, lnSb) | |
| Создание омических контактов | Электрический паяльник, индиевая микросхема, припой, эмалированная проволока и т. д. | |
| Автоматическое измерение одной кнопкой может быть выполнено без необходимости вмешательства человека после начала испытания. | ||
| Программное обеспечение может отображать кривую I-V и кривую BV. | ||
| Установлено программное обеспечение для автоматического измерения температуры. | ||
| Результаты эксперимента будут измерены, и данные будут временно сохранены в программном обеспечении. Если требуется долгосрочное хранение, данные можно экспортировать в таблицу EXCEL для облегчения последующей обработки данных. | ||
| Предоставьте стандартные образцы для испытаний на эффект Холла и данные Института полупроводников Китайской академии наук: 1 комплект. | ||
Тестируемые образцы системы HMS:
Система измерения эффекта Холла DX-70
| Основные | |
|---|---|
| Страна производитель | Китай |
- Цена: Цену уточняйте