Автоматический измеритель магнитных свойств электротехнической стали

Технические показатели точности и повторяемости испытаний (см. стандартный образец квадратного круга):

Описание технических параметров оборудования

Технические характеристики встроенного тестового источника питания:

1. Вход: 220 В±20 В/10 А;
2. Входная мощность: синусоидальная мощность 500 ВА
3. Входная частота: 40–1000 Гц, точность менее одной десятитысячной заданного значения.
4. Ошибка частоты: в пределах ± 0,05 % от заданного значения.
5. Выходное напряжение: 0–10–50–100–200 В (эффективное значение) с четырьмя автоматическими выходами.
6. Выходной ток: 0–20–20–10 А (пиковое значение) с четырьмя автоматическими выходами.
7. Искажение напряжения: лучше 0,5%.
8. Стабильность напряжения: лучше 0,2%
9. Метод генерации сигнала: метод цифрового частотного синтеза DDS, цифро-аналоговый преобразователь: 16-битный биполярный.

Параметры системы:

1. Процессор: 32-битный встроенный высокоскоростной процессор ARM.
2. Интерфейс: RS232, можно подключить к микрокомпьютеру для управления программным обеспечением верхнего уровня.

Параметры технологии выборки: аналого-цифровой преобразователь 1 МГц, двухканальный 16-битный синхронный аналого-цифровой преобразователь, автоматическая замена значений выборки.

Точность измерения (предварительный нагрев в течение 10 минут при температуре 23 ℃ ± 5 ℃, относительной влажности 30–75 % без воздействия внешнего магнитного поля).

1. Точность блокировки магнитной индукции B: ± 0,5%.
2. Точность измерения магнитной индукции B: ± (0,2% + 0,1% × (Vf/Vr-1) (Vf: диапазон измерения индуцированного напряжения, полный диапазон дельта, Vr: пик измерения индуцированного напряжения (Vf/Vr-1) ≤ 2 (устройство для измерения напряжения 30 В, 300 В).
3. Точность фиксации магнитного поля H: ± 0,5%; Точность измерения магнитного поля H: ± (0,2%+0,1% x (If/Ir-1)) (If: значение полного диапазона устройства отбора проб тока возбуждения, Ir: пиковое значение измерения тока возбуждения (If/Ir-1) ≤ 2 (300 мА, 3000 мА, 30 000 мА устройства отбора проб тока).
4. (Удельные общие потери (Ps): ± (1,0+(Φ/90 °) × 0,05 × tan (Φ))% (Φ: Фазовый угол между наведенным напряжением и током возбуждения).

Исследования и разработки промышленных управляющих компьютеров и лазерных принтеров HP являются стандартным оборудованием.

Функция тестирования программного обеспечения DX-2012M (интерфейс тестирования на китайском и английском языках и выбор отчета)

Программное обеспечение для тестирования кремниевой стали DX-2012M, базовое программное обеспечение написано на языке микроконтроллера AMR, а верхнее компьютерное программное обеспечение разработано на C #, которое может напрямую выполнять операции программного управления. Основные функции заключаются в следующем:

1. Подключается к микрокомпьютеру для автоматического управления и сохранения данных испытаний;
2. Обеспечивает функцию сортировки по важным параметрам (Br, Bm, Hc, Hm, Ps, ua);
3. Точное измерение: частота f, пиковое значение первичного тока (эффективное значение), пиковое значение вторичного напряжения (эффективное значение), активная мощность и полная мощность;
4. Точное измерение: остаточной намагниченности Br, коэрцитивной силы Hc, амплитудной магнитной проницаемости ua, угла потерь δ и удельных общих потерь Ps;
5. Точное измерение: упругой проницаемости u', вязкой проницаемости u'', индуктивной проницаемости uL, резистивной проницаемости uR, значения добротности и константы индуктивности AL;
6. Предоставляет отчеты о формах тестовых сигналов I-V-B, петлях гистерезиса B-H (кластерах), кривых проницаемости переменного тока u и B-H и кривых намагничивания, а также кривых общих потерь для Ps-B.
7. Он имеет функции тестирования блокировки B, блокировки H и частоты блокировки f, а также может объединять три или менее отчета о кривых выборки для сравнительного анализа.

Введение в проведение испытаний (в качестве материала для испытаний выбрана неориентированная кремниевая сталь 50W470)

Повторяющийся эксперимент (повторяемость теста DX-2012M)

Анализ повторяемости: Частота зафиксирована f без отклонения, Bm заблокирована (фиксированное значение 1,500T), отклонение: -0,2 %

Проверьте кривую кластерную диаграмму 0,1T ~ 1,5TBH с кластерами одной марки и частоты (менее 256), и работа станет исключительно удобной.

Кривая намагничивания BH и кривая проницаемости образца при частоте 50 Гц (чем более плавная кривая с большим количеством контрольных точек)

Кривая потерь образца при частоте 50 Гц

Петлевые кластеры, полученные в результате тестирования образцов на разных частотах в одинаковых условиях Bm.

Кривая намагничивания и кривая проницаемости были получены путем испытания образцов на разных частотах при одинаковых условиях Bm.

Кривые потерь были получены путем тестирования образцов на разных частотах при одинаковых условиях Bm.